光學顯微鏡和電鏡觀察花粉粒結構和壁層厚度
在觀察過程中遇到的問題及假象
使用掃描電鏡，通常難以區分小范圍的形態特征和非有機質及粘附在
有機結構上的物體。潛在的無機物的假象可能包括殘留在揭片上的礦物質
，以及酸蝕刻時沉積的粉末狀方解石。使用透射電鏡，在高倍鏡下對細胞
壁小碎片的確認和定位是一個難題。標準蝕刻或深度蝕刻將會導致困難進
一步加大，主要是由于細胞壁疏松并很容易破碎，或起泡而毀壞。此外，
在揭片中，礦物質會弄鈍刀口，這樣有礙超薄切片。
詳細的高分辨率的觀察對標準揭片技術提出了許多問題。實施的實驗
方案進入了一種兩難的境地。通常，我們想盡可能從有機細胞壁上除去礦
物質，但是用酸進一步處理又會毀壞細胞壁。正在消失的揭片技術提供了
：(”一種對細胞壁損害最小的蝕刻標本的方法；(2)用一種溶劑支持蝕刻
的細胞壁，去掉所有的醋酸膜，并一起去掉牢固的礦物質和粉末狀沉淀等
；(3)用一種方法固定標本作光學顯微鏡和掃描電鏡觀察，和／或進一步包
埋，放到特制的支架上，作透射電鏡觀察。
斜面可能會出現對花粉粒結構和壁層厚度的不準確結果，特別是壓型
花粉粒，故切片的準確定位特別重要。有一個恰當的例子正說明了這一點
。內網是具真氣囊花粉粒的氣囊內壁延伸一小段距離而形成的。雖然原氣
囊花粉粒表面可能具有與真氣囊型花粉相似性特征，但是這些氣囊含有從
氣囊內壁一直延伸到氣囊本體外表面的細線。在一個穿過內網的斜切片上
，有可能將真氣囊花粉粒誤認為原氣囊型的花粉粒(Osborn&Taylor，1993)
。上述兩種顆粒的識別，有利于解釋花粉壁的形成，甚至氣囊的演化，同
時是系統發育重建中一個潛在的重要特征。
