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采用電鏡TEM對涂層切割鑲嵌微區微觀結構分析




來源:yiyi
時間:2018-8-10 22:28:11

采用電鏡TEM對涂層切割鑲嵌微區微觀結構分析

    涂層組織及物相觀察與確定
    采用掃描電鏡觀察涂層的截面形貌。掃描電鏡試樣為沿橫截
面進行線切割、鑲嵌、拋光后,用王水進行腐蝕。涂層中元素的
半定量分析由掃描電鏡所附帶的牛津X-Max電制冷能譜儀,包括元
素面掃描和點成分分析等。
    采用透射電鏡(TEM)對涂層微區進行微觀組織觀察和結構分析
。透射電鏡分析薄膜試樣的制備時,先用線切割沿涂層表面縱向
切割成0.3 mm左右的薄片,接著用金相砂紙進行機械減薄,減薄
至0.1 mm左右時再用離子減薄儀減薄至穿孔。透射電鏡分析采用
雙傾樣品臺,電子加速電壓為200 kV。使用DigitalMicrograph軟
件對TEM圖片進行分析和微區傅里葉變化分析。高分辨電子顯微鏡

  涂層性能測試
  顯微硬度試樣為激光熔覆層的橫向截面,測試位置為由涂層的
表面向基體方向,載荷為0.5 kg,加載時間為15 s,每隔0.05
或0.1 MM測試一個點,所有的硬度測試均在室溫下進行。
  納米壓痕儀測定了各涂層試樣表面的微觀硬度和楊氏模量,壓
頭為三棱錐形金剛石壓針。壓頭最大載荷為300 mN,最大載荷持
續時間為15s。涂層表面的25個測定位置按等間隔選取,但是兩相
鄰測試點的距離要盡量大一些,以避免相鄰壓痕產生交錯影響測
試精度。試樣的楊氏模量,根據卸載曲線的斜率測

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