材料分析中較常用的技術是光學顯微鏡技術

 
固體顯微鏡技術
  材料分析中較常用的顯微技術是光學顯微鏡技術．．即使今天，
它仍然足觀察特征尺寸大于lμm的應用較普遍的工具之一。而對于
更小的特征，則選擇電子顯微鏡技術，如掃描電子顯微鏡(SEM)和
透射電子顯微鏡(TEM)。顯微鏡第大家族是掃描探針型顯微鏡，如
掃描隧道娃微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)。在這些新技術中，其
他問題如振動分離和原子探針的加工要比樣品制備產生的問題更嚴重，
 
目前科學領域較常用的光學顯微鏡和電子碌微鏡的樣品制備的一般步驟
?受樣品制備(以及相關設備和技能)影響較大的技術，毫無疑問是TEM。
 
 
    光學和電子顯微鏡分析中的樣品制備極其重要，基本的問題就
是制備一個能真實代表樣品的檢材。顯然第一步是切割成一定尺寸
的樣本，并通過打磨拋光將需要測試的樣品特征顯露出來。盡管這
些步驟可應用于所有的材料，但一般稱作金相學。光學和SEM反射
模式，還需要有蝕刻過程

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