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電子顯微鏡可測量直徑小于0.5微米磨損顆粒




來源:yiyi
時間:2017-5-20 2:58:22

電子顯微鏡可測量直徑小于0.5微米磨損顆粒

電子顯微鏡
    電子顯微鏡可測量直徑小于0.5微米的磨損顆粒,也就是說,可以測量光學
顯微鏡看不到的顆粒。放大倍數可以達到250 000倍。此外,電子顯微鏡測量可
以測出小顆粒在細胞或血漿中的分布以及夾雜物的排列。另一方面,這種測量并
不能給出關于微粒來源物質的準確信息。另一不足是,不能準確測量顆粒在整個
組織中的分布情況,因為它只能測量很小的區域。因此電子顯微鏡測量技術在亞
微觀變化的研究上應用比較多,而在研究細胞或纖維對磨損顆粒的普遍反應上的
應用則較少。
    掃描電子顯微鏡
    在光學和電子顯微鏡測量中,圖像由傳導的光線形成;與此不同,掃描電子
顯微鏡直接對機體表面進行照射,因此,通過對組織進行切片,可以觀察到切片
表面的情況。放大范圍為20倍至2萬倍,該檢查法能夠獲得超大的景深,并且
具有很好的空間分辨率。
    使用掃描電子顯微鏡時,發出一種高速電子束,其直徑約為100A,以線性
方式在高真空中對樣本表面進行掃描。從樣本表面發射出來的次要電子束通過閃
爍晶體檢波器,以圖像形式記錄在記錄器上,從而形成圖像。準備組織切片
時使用常見的石蠟切片技術,把厚度為4~40μm的切片放置于鋁板、經過金蒸
發技術處理的石英玻璃、云母或透明塑料之上。然后,用厚度為100A的經過蒸
發處理的鋁板或金板把制片蓋上,從而使制片具有良好的導電性和散熱能力,以
避免在電子掃描時造成熱損傷。

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