幾何結構微米級粗糙度的測量立體顯微鏡立體成像
立體顯微鏡法
立體顯微鏡法(stereos—copy)指利用立體成像以得到
高度方面的信息�？墒褂霉鈱W或電子顯微鏡成像。因此分辨率范圍
很寬，從也許幾十個納米直到幾個厘米。該技術需要有重要的計算
手段，但這些現在極易獲得。現代分析運算已明顯改進了這項技術
的速度和精確度
氣流技術粗糙度測定法
有好幾種儀器可利用氣流技術測量平均表面粗糙度。這類儀器
的例子包括ParkerPrint—Surf、Bekk、Bendtsen和Sheffield。新
型裝置使用同樣的測量幾何結構，很容易利用現代電子學儀器實現
測量。這類裝置一般測量紙面與壓向紙面的金屬板側邊之間的氣流
量。各裝置之間甚至同一裝置的各方法之間的幾何結構、所用壓力
和背面材料都是不同的。雖然這類裝置有不少加以校準可提供RMS
微米級粗糙度的測量，但它們測量的規格特性取決于裝置的幾何結
構。這類裝置還存在著受涂層本身透氣度(因涂層內部以及涂層與
測量頭之間空氣流動)影響的可能性。這類測量裝置的優點是它們
的操作速度很快，使它們極適合于在生產環境中使用。
摩擦因數
表面分布狀況和化學性質可影響紙面的摩擦因數。分布狀況可
影響微觀與宏觀摩擦力
