光學顯微鏡以測定涂層厚度或涂層,原紙界面粗糙度
物理橫截面法
物理橫截面法(physical cross sectioning)提供紙張涂層內
部結構方面可獲得的若干較佳信息。但其勞動強度可能較高。一般
是在紙試樣中放人硬而有滲透性的介質，諸如環氧膠或丙烯酸，以
盡量減少在切薄片或研磨時的試樣變形。放人的介質應根據試樣類
型選擇。諸如紙板那樣具有多層高涂布量的厚試樣，要求使用低黏
度慢固化的環氧膠。對其組分可擴散進介質的試樣，要求用快速固
化的介質，諸如丙烯酸。
另外，使用凝固切斷技術有可能獲得相對高質量的橫截面。具
體做法是用液氮凝固試樣，然后用刀刃切開。這種橫截面一般適合
于電子顯微技術。但這種橫截面的未拋光粗糙度可能過大，超過了
多數光學顯微鏡領域的規定深度范圍。
如果使用電子掃描顯微技術顯示試樣圖像，常使用固體塊。輻
射電子顯微鏡要求使用薄截面。光學顯微鏡可用薄截面或固體塊。
但如果使用光學熒光成像，必須用薄截面以避免來自試樣主體內部
的熒光。光學顯微鏡具有足夠的分辨率以測定涂層厚度或涂層頂部
(或涂層／原紙界面)的粗糙度。光學熒光成像技術可用以測量熒光
滲透液的滲透性，染色法可用以測量諸如淀粉的分布狀況。電子顯
微技術給予較高的分辨率，所以多層涂布有時也可用顏料粒子規格
的不同進行分辨。例如，也可實行元素測位法(elemental mapping
)以確定鋨示蹤膠乳的位置所在。
