錠型偏析在橫向低倍試片不同工件鑄件分析顯微鏡
疏松分為分布整個斷面的一般疏松以及分布中心部附近的中心疏松
。疏松在高靈敏度探傷時可以發現。
偏析分為錠型偏析和點狀偏析兩類，錠型偏析在橫向低倍試片上表
現為沿錠型形狀分布的深色區域，一般常為方框形，因此也稱方框形偏
析。點狀偏析多呈暗灰色的點，有時這些點較基體金屬凹陷，它又分為
均勻分布的一般點狀偏析和只分布在邊緣的邊緣點狀偏析兩類。
晶粒粗大多發生在大型鍛件中，由于加熱溫度過高或保溫時間過長
，奧氏體過于粗化，從而使轉變以后沿晶界析出大塊或長條鐵素體和使
鐵素體晶粒粗化。有些工件雖然不大，但有過熱或者過燒組織時也會產
生粗大晶粒。某些鋼在常溫時具有奧氏體組織，未經變形時也具有較粗
的晶粒組織。
此外，從不同工件出現缺陷類型來講，出現在鑄件中的缺陷有：縮
孔、夾渣、蜂窩狀缺陷、氣孔、砂眼、熱裂紋、冷裂紋、冷隔、縮松、
疏松等。出現在鍛件中的缺陷有：白點、夾渣、裂紋(內裂紋、軸心晶
間裂紋、鍛造裂紋)縮孔殘余、夾層、疏松(一般疏松、中心疏松)、偏
析(錠型偏析、點狀偏析)等。焊縫中出現的缺陷有：氣孔、夾渣、裂紋
、未焊透等。
概括起來，各種缺陷的幾何形態與分布規律以及它們所經過的熱加
工工序對于超聲波探傷定性有很重要的意義，應作較全面的了解。
波形與低倍組織的對應關系
超聲波探傷儀除了能提供缺陷的當量大小以外，還能提供缺陷的空
間分布，這一點對我們定性探傷十分重要，因為在一般情況下低倍組織
上的缺陷與該處的波形互相對應。
