透射電子顯微鏡特點是分辨率高-物相結構分析儀器
1)掃描電鏡法
利用掃描電鏡可以直接觀察斷口試樣，放大倍數可以隨意調節
.而且成像逼真，立體感強.掃描電鏡的試樣室一般可以放置下直徑
25mm,高10mm的斷口試樣。試樣在試樣室內可根據觀察的需要沿三
個軸平移、傾斜和轉動.此外，掃描電鏡中還裝有用來探測各種信
號的探頭(如x射線譜儀)，可以對斷口試樣進行成分分析。
利用掃描電鏡觀察斷口時不需要復型，從而克服了斷口復型技
術中的很多限制。通過掃描電鏡分析斷口形貌，比較容易判定材料
的斷裂性質，如是脆性斷裂還是韌性斷裂;是一次(瞬間)斷裂還是
多次重復斷裂(疲勞斷裂);是晶間斷裂還是穿晶斷裂;或腐蝕產物以
及裂紋形態、裂紋起源和裂紋走向等。斷口上有無析出物掃描電鏡
特別適合于斷裂事故的分析，因為掃描電鏡的景深大，即使斷口表
面相當粗糙，甚至有較深的二次裂紋，率下找出所關心的斷口區域
，內部細節特征也能清楚地顯示出來。利用掃描電鏡可以在低倍然
后逐步放大倍數來觀察細節.若將掃描電鏡和電子探針(EPMA)等測
試方法結合起來，可直接對某觀察區域及析出相進行成分分析.這
對判定斷裂性質及產生斷裂的原因是很有幫助的。
2)透射電鏡法_.透射電鏡的較大特點是分辨率高，放大倍數可
達30萬你而且景深為光學顯微鏡的數亙件_可清楚觀察到采用光學
顯微鏡看不清楚的粗糙表面或斷口細節·此外，利用透射電鏡觀察
斷口形態的同時，可利用選區的電子衍射技術對斷口表面上的夾雜
物析出物’或萃取相進行物相結構分析，以便判斷它們在斷裂過
程中的作用.
