光譜分辨白光干涉測量
    一個波長范圍很寬的光譜干涉條紋也可以利用分光計通過離散
白光條紋而觀察到。這種光譜分辨條紋的觀察方法稱為光譜分辨白
光干涉測量(SRWLI)，也是前面描述過的波長掃描的一種替代方法
。
   干涉儀將分光計與CCD相機結合起來使用。條紋所在的平面位置
通過分光計的入射狹縫成像到CCD相機上。分光計沿CCD相機的顏色
軸將測量對象的單根白光條紋分離成光譜條紋。不同類型的分光計
都可以使用，例如棱鏡或者光柵光譜儀。
    科學家們一百年前觀察到的條紋基本上是“信道頻譜”。在這
方面光譜分辨干涉測量并不算是一種新的技術，但是，計算機、固
體器件和分光計的發展使得該信道頻譜在很多方面得以應用。光譜
分辨白光條紋有許多不同的應用，例如測量不同的折射率、折射率
分布、波分復用、圖像傳輸、距離和位移的測量，較近又在輪廓測
量上得到應用。

   圖像構成
    在光譜分辨白光干涉儀中，顏色軸沿著CCD相機中垂直于分光
計狹縫的軸向℃CD相機的行(或列)像素記錄下光譜干涉信號，根據
該信號可以計算出被測對象上此點的光譜相位或條紋頻率，從而推
導出被測對象與相對應參考點之間的距離信息

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