表征復合材料界面力調制顯微鏡成像技術簡介

力調制顯微鏡

  　　  原子力顯微鏡成像的擴充包括力調制顯微鏡(FMM)樣品機械
屬性的特征。與側力顯微鏡、磁力顯微鏡一樣，力調制顯微鏡允許
同時獲得外形和原材料屬性的數據。
　　    在力調制顯微鏡模式中，原子力顯微鏡探針頂端與樣品接
觸掃描，并且Z軸反饋回路保持懸臂偏轉為一常數(如原子力顯微鏡
中的定力模式)，另外，一個周期性的信號加在探針上或加在樣品
上。懸臂調制振幅的結果取決于根據樣品

　　根據樣品表面的機械屬性懸臂振動的振幅變化
　　    當探針與樣品接觸時，表面會阻止振動和懸臂的彎曲，在
同樣的作用力下，硬的區域比軟的區域損壞樣品表面小，也就是，
硬的表面對垂直振動產生很大的阻力，并隨后造成懸臂彎曲。由懸
臂調制振幅的變化，此系統產生力調制成像，這是樣品彈性屬性的
圖像。應用信號頻率為幾百千赫大小，其比z軸反饋回路追蹤的信
號頻率要快。外形信息能夠從樣品彈性特性的局部變動中分離出來
，并且兩種類型的圖像可同時獲得。

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