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航;蚝娇展こ讨袦y量尺寸較大的工件的光學儀器




來源:yiyi
時間:2016-5-18 12:38:45

航;蚝娇展こ讨袦y量尺寸較大的工件的光學儀器


經緯儀測量系統

    用測量學的經緯儀來測量尺寸較大的工件,例如,在航;蚝娇展こ讨小S
兩個經緯儀,它們彼此的空間位置是明確的。在測量物體上有較容易的定位點,
例如,拐角或附帶的測量標志是定位的目標。通過經緯儀上的望遠鏡可實現瞄
準。通過計算機取值可獲得望遠鏡的豎直和水平角度坐標。通過三角計量,可計
算出瞄準點的三維坐標。

 照相測量方法
    照相測量方法也是起源于測量學的一項技術。對于測量大的物體,其應用與
經緯儀測量系統相似。一個共同的特征是三維信息的計算,例如,需要獲得附在
工件表面的測量標志。應用一個或更多的照相系統,至少從三個位置成像測量物
體。如果所獲得標志的一般識別在照相機圖像中是可能的,例如,在一個圖像中
的一個標志被惟一地分配到另一個圖像中的一個標志,也就可能通過三角計量方
法計算出標志的空間位置。為了使必需的點標志分配容易,它們可以包含一個單
獨的代碼。

干涉儀距離測量
    干涉儀距離測量系統基于邁克遜干涉原理。從激光發出的光被分光鏡分成測
量光束和參考光束。參考光束被固定的三垂面反射鏡反射(立體角),移動鏡面
上的測量光束沿著測量路徑移動。與平面鏡相比,它們有一個好處是,把光束反
射回與鏡面輕微傾斜或橫向偏移無關的傾角方向。當沿著測量路徑移動可移動的
三垂面反射鏡時,測量光束的光路隨著變化。因此兩束光通過第二個路徑穿過分
光鏡時,干涉現象構成與不構成相互變化。這樣光電二極管檢測到相應明暗變化
的干涉信號

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