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顯微鏡觀察析出金屬晶粒的大小或電鍍金屬晶粒




來源:yiyi
時間:2016-3-10 21:10:20

顯微鏡觀察析出金屬晶粒的大小或電鍍金屬晶粒


用于工業的電鍍金屬晶粒很細,在性能上與冶煉金屬有
所差異。因此,金屬特性受晶粒大小、雜質共析量、內應力
以及結晶擇優取向等因素的影響。

    在電鍍過程中,基體金屬的結構常以各種形式影響析出
金屬。如果基體金屬結晶面的晶格間距與電鍍金屬的晶格間
距完全一致,則基體金屬晶體結構就會被延續到電鍍金屬
中,這種現象稱之為外延生長。利用電鍍條件能否發生外延
生長,這要視各種因素而定。在采用高電流密度電解時,或
由于使甩添加劑而要求施以高過電位時,則基體金屬結構的
影響極小而形成三維晶核,相反,在高溫、低電流密度電解
時,就容易發生外延生長。

    在硫酸銅這類單鹽鍍液中,很容易析出粗大晶粒的柱狀
結晶,在氰化銅這類絡鹽鍍液或含添加劑的鍍液中,則析出
金屬的晶粒很細,而且擇優取向不明顯。加入鍍液中的各種
有機添加劑,有助于析出金屬晶粒的細化。
    一般說來,粗晶鍍層質地柔軟,強度低,延展性好;細
晶鍍層堅硬,強度高,脆性大。

只用顯微鏡觀察確定析出金屬晶粒的大小或結晶的擇優
取向,往往會得出錯誤的結論,而用x射線衍射或電子衍射
法分析晶體結構,才能清楚地了解晶體的這類特性s
    應用電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡研究鍍層物理性能越
來越顯得重要,尤其是掃描電鏡,它具有能直接觀察表面結
構、共析物及其結晶晶粒的優點。

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