偏光顯微鏡應用于粒度分布和礦物顆粒計量分析
偏光顯微鏡有助于研究織構、粒度分布和礦物顆粒問的接觸特性，這對于了解礦物原
料的呵選性以及礦物的性質、分布和成因都是很重要的。用圖象分析法在薄片或光片中對
礦物進行定量測定的繁重勞動，已被自動分析儀大大減輕。自動分析儀是基于用直徑0．0005
mm的圓點發射的光進行光度掃描的原理構制的。透明礦物的反差可用染色的辦法增強。
折光率是鑒定礦物的一個重要特征，可用變溫的方法極其容易地在熱臺上測定，要盡可能
用棱鏡同步加熱的折光儀。
此外，雙變法是利用費氏臺測定折光率隨可見光譜波長改變而
發生的變化。高溫顯微鏡(達1700℃)或至少熱臺(達1350℃)使我們有可能觀察礦物和
巖石(如長石、致密硅巖、石英巖)加熱時其光性的變化，觀察其相變、燒結、熔融、重結
晶、在固相中的反應、變形、收縮和膨脹。電子顯微鏡可以測定聚集在復制品上被金屬鍍
層遮蔽的礦物的結構布置；如果應用掃描電子顯微鏡(放大30至150000倍)，也可提供該集
合體表面結構或破裂面的三維成象；在螢光屏上還可以拍攝和研究微細質點(如粘土礦物)
的色散、形狀和厚度(在金屬鍍層后的)。與勞厄衍射圖上的X射線相比，電子衍射可以
表現礦物的內部結構，不同的是電子輻射的波長小得多(放大500至500000倍)。在離子顯
微鏡中，從熒光屏上有可能觀察到由于離子轟擊而自礦物表面射出的次級電子。
