熟料中不同相組分定量分析顯微圖像顯微鏡制造
要獲得熟料中不同相組分的粗略的定量估計，可采用各種不
同的積分顯微臺。薄片或磨片置于載物臺上，載物臺可借許多顯
微螺旋中的一個沿特定方向移動。每一個組分配定用一個特定的
螺旋，并且要使能夠跨過樣品的邊緣。試樣用普通的方法觀察，
載物臺的移動須能使每一含螺旋在方格網上按照其所配定的組分
測定其全部交線。這樣可得到組分的體積百分數。將這個方法用
于波特蘭水泥熟料時，因為必須采用高的放大倍率，并且特別是
對于問充物質難以鑒別，所以會有很大困難。采用“點數計"系
統有許多優點。只要操縱～系列電鈕中的一個，就可使載物臺移
動一定的距離。每個電鈕配定一種特定化合物，當方格網的橫斷
面積一經確定，立即按相應的電鈕，載物臺就自動地移動。在這
個方法中，在載物臺上的重量要較螺旋法中少得多而試樣則保持
在焦點上。并且除此之外，當移過可疑顆粒的邊緣時，不會產生
重復測定，因此避免了回路測定的必要性。當然，確定化合物的
困難依然存在。
應用X一射線法來估計化合物的含量已引起人們大量的注
意。晶體物質的X一射線圖形或衍射圖是由不同強度的線條組成
的。含有兩種或更多物質的混合物中，常常會由于不同化合物的
存在而發生某些線條(當然不是所有的線條)的重合。在晶體混
合物中，倘使某一種晶體的數量減少，則其圖形的總強度也隨著
減弱，直至較后達到即使較強的線條也觀察不到。因此，，用x一
射線方法所能測出的混合物中某一晶體物質的較小含量，決定于
它的一些較強線條的強度和它們的位置與存在著的其他化合物線
條的位置相差的程度。通常的規則是屬于高度對稱的晶體系的晶
體物質，如立方晶體，具有比較少的線條但較清晰的圖形，而低
對稱性的晶體物質，則具有較弱的圖形，但線條數目較多。高靈
敏度的X一射線分光儀能將表觀上一根單一的強線分散成一系列
晶格間距相近的弱線條，因此而使X一射線分析復雜化。
