顯微鏡測量粒度,粒度小到0.1微米仍可以進行測量
當預測的粒度小于光學顯微鏡的分辨能力極限時，可以采用電子顯
微鏡進行測量，粉末試樣沉積在碳膜或塑料膜上，借掃描進行測量同樣
也是可能的，粉末冶金使用的金屬粉末的粒度很少如此之細，需要用電
子顯微鏡才能測量。
即使顯微鏡測量已經不再是測量粒度的常規的方法，
但是對于校正其他方法，特別是基于沉降分析的方法來說，顯微鏡
測量仍有價值。
以斯達克斯定律為基礎的方法在許多可以用來測量粒度和粒度分布
的淘析的沉降法中，一般只有少數幾個方法對于金屬粉末是可以使用的，
在提出這些方法之前，為了得到可靠的結果，應當先說明某些必須說明
的條件：必須避免懸浮介質的對流；流體和粉末顆粒的相對運動速度必
須足夠低，以便保證是層流，這意味著，由給出的雷諾數應當小于0.2
式中，是顆粒大小，是沉降速度，是流體密度，是液體的粘度，這就是
以用斯達克斯定律方法測量的粒度，限制在亞篩范圍內，另一方面，
同流體的不均勻性進行比較，粉末顆粒大小限制在大小5 μm 范圍內，
而在液體中進行沉降分析時，粒度小到0.1 μm 仍可以進行測量。
懸浮液中的粉末顆粒必須是完全分散的，而且，懸浮液必須解釋到
足以保證獨立運動，這意味著，懸浮介質中粉末顆粒的體積較大濃度大
約為1%，較后，必須避免容積壁的影響，這意味著，淘析或沉降分析容
器的內徑要足夠大。
