光學顯微鏡測定顆粒試樣的范圍是150至0.8μm

　　顯  微  鏡

　　由于用顯微鏡觀察所需試樣量非常少，所以對試樣的代表性要求嚴
格。因此取樣和制備試樣的方法必須謹慎而且應熟知控制準確性的統計
因素。

　　近年來顯微鏡法有很多進展，出現了大量文獻和新式儀器，有許多
儀器是類似的。選擇較合適的顯微鏡測定方法與在許多可用的測定顆粒
大小的方法中選擇較合適的一種是同樣困難的。有一些指標：如被測物
的大小范圍，費用，需要分析的數量和頻次等，可以有助于擇定某種顯
微鏡測定法。希望對本章讀者在進行明智的選擇并進行準確而有意義的
分析有所裨益。光學顯微鏡

　　光學顯微鏡測定范圍；150至0.8μm，大于150μm者可用簡單放大
鏡觀察，小于0．8μm者必須用電子顯微鏡觀察

　　光學顯微鏡較大的限制在于焦距過短，放大100倍時焦距約10微米
，而放大1000倍時焦距約0.5微米�？捎梅瓷涔庋芯看笥诩s5微米的顆粒
，對小于5弘m者只能用可看到黑影的透光顯微鏡。由于光的衍射作用，
在顯微鏡中看到的影象邊緣變得昵糊了。

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