螺絲游動測微計的金相顯微鏡-光切測量鍍層厚度
測試方法和步驟
1．顯微鏡的隹備和調整
(1)采用目測鏡檢測微計或螺絲游動測微計的金相顯微鏡，
按儀器說明書要求進行安裝。
(2)接通電源，開啟開關，調整光源位置到較佳狀態。
(8)按鍍層估計厚度，選用適合倍率的目鏡和物鏡，并進行調
整焦距。調焦距時應先粗調后細調，直至視場中觀察到的物象清
晰為止。
(4)將準備好的試樣放于顯微鏡載物臺上，并使鍍層測厚部
位盡可能在視場中央，通過目鏡測微計觀察并測量其厚度．每次
測量值至少是三次讀數的平均值。如需要測量平均厚度，則應在
鑲嵌體試樣中鍍層剖面全部長度內測量五個點，然后取平均值。
輪廓儀法和光切法測厚
輪廓儀法測量鍍層的厚度
輪廓儀法又稱觸針法，它是采用試樣鍍前屏蔽或鍍后溶解的
方式，使基體某一部份除去鍍層，在基體和鍍層之間形成一個臺
階。通過輪廓儀的探針運動來測量臺階的高度而得到鍍層的厚度
值。這種方法可以測量較寬范圍的鍍層厚度�？蓽y范圍從0．01--
1000μm的各種鍍層，準確度為士10％以內。
．輪廓測厚儀有電子屏幕針式儀和表面輪廓記錄儀兩種。輪廓
記錄儀的結構和使用方法．
光切法測量鍍層的厚度
光切法又稱干涉顯微鏡法。其試樣的制作與輪廓儀測厚法相
同，即造成一個基體和鍍層的臺階，利用多光束干涉顯微鏡對該臺．
價高度測量，從而獲得鍍層的厚度值。該方法可以測量2μm以
下，具有較高反射率的各種鍍層厚度。
光切法測量鍍層的厚度，是通過干涉測量儀，一個貼于試樣作
平面基準板的透鏡．當一束單色光在上述試樣上和透鏡之間來回
反射時，可觀察到在光學平面和試樣表面之間產生的干涉帶圖象，
若將基準板相對于被測鍍層表面稍微傾斜，則干涉帶的圖象以平
行的光亮帶和暗帶交替出現。當干涉帶在基體與鍍層的臺階處
時，干涉帶的圖象會產生相對位移，其位移量是試樣表面與光學平
面位差的絕對量。所以，通過帶測微目鏡和干涉顯微鏡觀察和測
量干涉帶位移距離，即可測出鍍層的厚度值。
干涉顯微鏡的使用方法，可參照儀器的使用說明書要求進
行。
