測量粗糙度的儀器的設計原理-機械輪廓儀常識

  粗糙度的測量
  目前的表面測量技術水平還可能將一個物體的實際表面準確地
表征出來，并確定它的真正質量。

  測量粗糙度的儀器分為按接觸原理工作的和按光學干涉原理工
作的兩類，接觸儀儀器所提供的是一種一維的表面圖形，而光學
干涉顯微鏡所顯示的則是一種二維的表面圖形，采用機電接觸式
輪廓儀，則不但可提供表面的輪廓圖，而且還可以直接示出各種
粗糙度尺寸。

  當用一種粗糙度尺寸，表明一個要件的粗糙度時，需要在工件
的不同位置上進行一系列測量，以便從這些值中求出一個平均值
來，測點的數目取決于這些分別測量數據的離散程度。
  由于至今不沒有一種測量粗糙度的儀器能準確地按標準，所以
在比較由各種機電式輪廓儀測出的粗糙度時，必須注意下列兩點
：
  1、 這些儀器必須有相同的基準制，或者同樣的探測器結構；
  2、測量必須在輪廓的同一段長度上進行，而且都不用或者都
用相同的波紋濾除器。

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