顯微鏡、金相顯微鏡、 上海光學儀器廠- 研發專家

SiteMap:XML Html urllist 招聘 客服 地圖 咨詢熱線:021-55228110
顯微鏡|金相顯微鏡|測量投影儀等光學儀器專業提供商-上海光學儀器廠
網站首頁
企業介紹
新聞中心
企業產品
客戶留言
相關下載
聯系我們
付款方式

金屬的表面與晶粒粗化溫度加工鑒定金相顯微鏡




來源:yiyi
時間:2015-9-29 14:57:32

金屬的表面與晶粒粗化溫度加工鑒定金相顯微鏡

就一般而言,異常晶粒長大過程具有如下特征:
    (1)在異常晶粒長大過程中大晶粒是從業已存在于原始基體
中的晶粒發展而成的,而不是在異常晶粒長大過程中新形成的。
    (2)異常晶粒長大的初始階段是緩慢的,即在異常晶粒長大
之前有一個明顯的孕育期。

    (3)決定哪些晶?赡艹蔀槎尉Я6靡蚤L大的因素以及
二次晶粒在初期的長大機制是整個異常晶粒長大過程中較未被人
們認識的部分。一般認為二次晶粒在初期就明顯大于系統平均晶
粒尺寸或者在有織構存在時具有與眾不同的取向。
    (4)發生異常晶粒長大的條件是正常晶粒長大過程受阻而不
能進行。
    (5)異常晶粒長大結束后的二次織構不同于原始試樣中的主
要再結晶織構。

    (6)許多金屬具有相應的能發生異常晶粒長大的較低溫度,它
稱為“晶粒粗化溫度”。當退火溫度低于晶粒粗化溫度時,將不發
生異常晶粒長大,因此一般不會形成粗大的晶粒組織。而當退火溫
度大大超過晶粒粗化溫度時,盡管會發生異常品粒長大,但因二
次晶粒數目很多,它們很快就將相互碰到.使異常晶粒長大過程
較早結束,所以晶粒尺寸也不會很大。但是如果退火溫度剛好超過
晶粒粗化溫度,則將只有極個別晶粒呈異常長大特征,它們將具
有足夠大的空間充分長大,在這種情況下異常晶粒長大過程結束
后的晶粒尺寸較大。

    (7)異常晶粒長大的驅動力來源通常與正常晶粒長大相同,即
來源于系統的界面能,但在某些情況下,金屬的表面能也可能是
決定異常晶粒長大特征的主要因素。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)

  
合作站點:http://www.xianweijing.org/    
萬能工具顯微鏡 丨 表面粗糙度儀 丨體視顯微鏡 丨金相顯微鏡 丨
上海光學儀器廠_http://www.xjwdx.com @2021  上海永亨光學儀器 SiteMap
工信部備案號:京ICP備11022359號-4-丨- 北京市東城分局備案編號:11010102000203


推薦使用800*600以上分辨率瀏覽光學儀器產品以及參數
上海永亨光學儀器制造有限公司
上海光學儀器一廠_上海光學儀器廠
版權所有 未經允許禁止任何人復制,轉載本站顯微鏡以及光學顯微鏡產品以及參數信息
99re在线国产