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用光學工具顯微鏡或者渦流直接測量包鋁層的厚度




來源:yiyi
時間:2015-9-14 23:11:08

用光學工具顯微鏡或者渦流直接測量包鋁層的厚度

    運用光學工具進行操作時,要用到許多光學儀器和附件。對
于這些儀器,我們不僅要懂得操作,還要懂得它們的光學原理,
以便充分發揮儀器的性能。

    在生產過程中直接進行表而質量的檢驗,以符合技術條件所
要求的幾何參數。此外,還檢驗化學成分、機械性能、組織、是
否存在內部缺陷和不密實性(用金相、超聲波和其他方法)。在
某些個別情況下,用顯微鏡或者渦流法直接測量包鋁層的厚度,
測量陽極氧化膜的厚度等等。用于電工技術方面用的制品(母
線、導線等)需要補充檢驗導電率。自然時效型鋁合金半成品要
檢驗晶間腐蝕傾向,其方法是在1N的NaCl+l%HCI溶液中浸蝕
試樣,然后在顯微鏡下觀查磨片。取樣制度、尺寸和試驗方法依
相應的技術條件而定。

化學成分檢驗
不論快速分析結果如何,每熔次都要檢驗化學成分。
允許重復分析,當重復分析結果仍不合格時,則該熔次報
廢。


    分析的重現性,按以不少于50次測定結果計算的均方誤差來
表示,應該與下列值大致相符:元素濃度從0.001%到0.1%時為
士10%;從0.1%到0.5%時為士5%;從0.5%到3.0%時為±3-
4 %;從3.0%到10.0%時為±4%

    當元素濃度不大于5%進行大呈分析時,兩個乎行測定的試
樣結果之間的允許偏差不應超過試樣中元素含且的 ± 8%。如果
偏差超過士8%時,該試樣要進行重復分析。當分析較高濃度的
元素時,允許偏差范圍為士5%

    銅含量5-8%和鋅含量6-9%時,用光電光譜儀分析是有某
些困難的,其主要原因是難以制造出均勻的標樣。如硼、鉻等微
量雜質可用示波照相極譜分析和矢量極譜分析方法測定。

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