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鍍覆層形態、結構、位置的不同應力測量顯微鏡




來源:yiyi
時間:2015-9-12 17:17:49

鍍覆層形態、結構、位置的不同應力測量顯微鏡


鍍覆層中殘余應力的形成,與鍍覆時的工藝方法、工藝參數、
鍍液組成、鍍覆層金屬熔點、鍍覆層厚度等因素有關。

    通常根據鍍覆層的性質、形態、結構、位置的不同.殘余應力也
具有不同的性質。例如鍍覆層金屬為低熔點金屬(如錫、鉛、鋅、鎘
等)時易形成壓應力;而鍍覆層金屬為高熔點金屬(如銅、鐵、鉆、鎳
等)時易形成拉應力。由鍍覆工藝、鍍液等因素引起鍍層材料趨向
膨脹時,鍍層內應力表現為壓應力;反之使鍍層材料產生收縮時。
表現為拉應力。這些情況在測試時都應予以注意。


  有時發現個別熟料礦物顆粒的邊緣,在正交偏光鏡間也有較高
的干涉色,為了避免將其誤認為酚鈣礦巢,可以拉出具偏光鏡進
行觀察,如為熟料礦物,則顆粒外形此時不發生變化。
  礦渣活性度的測定
  粒狀礦渣活性度的測定,是基于礦渣結合石膏的化學能力,以
硫酸鈣與礦渣反應之速度來表示它的活性度,實際上,我們是以
每20克礦渣,在一定條件下吸收的石膏量來表示其活性度的。
  礦渣的活性度決定于它的成分,成粒時的溫度以及熔融礦渣的
冷卻速度。
  氧化鋁在礦渣中以兩種狀態存在;一種是活性狀態,迷幻存在
于礦渣的玻璃質中,能與石膏起作用;另一種是非活性狀態,它
存在于礦渣的結晶體中,以硅鋁酸二登上出現,不能與石膏起作
用。
  測定礦渣活性度的方法,可用鹽酸聯苯按容量法;也可用硫酸
重量法。

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