土樣制備,土的組構土的類型特征分析圖像顯微鏡

  用于偏光顯微鏡研究的薄片厚度為30微米，因此這種擾動的影
響不大，對于x-射線衍射的研究，一微米的擾動深度，影響也不
大。
  干燥樣品的破裂面有時也可以保持原組構狀態，但破裂后需對
破裂表面輕輕地吹拂乾凈或對表面作剝離處理，因為破裂的樣品
表面可能有松動的顆粒，或者因為破裂面容易在樣品薄弱部位通
過而不能代表樣品的結構特征。

  透射電子顯微鏡需要300-500A超薄片進行觀察，這種超薄片是
用切片機來制備的，切片過程中如遇到粗顆粒將樣品的組構產生
擾動。

  土樣制備的方法主要取決于所研究土的組構特征、觀察方法、
土的類型、含水量和強度等因素，根據以上這些因素就可選擇制
樣的方法和預估這種方法對測定結果的影響程度。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)