巖樣樣品的孔隙率及表面粗糙度測量光學顯微鏡應用

    光截面法測定是觀察(在有刻度尺的特殊顯微鏡的目鏡
里)從側面照明的膜層圖象。本方法僅能用于平表面上產生
的厚1～20微米的透明無色膜。精度為±5％。

    評價陽極氧化膜厚度的渦流法是在檢驗的表面上放一個
用這種方法確定的孔隙率也考慮了水中飽和時未滲入的孔隙。
    當完整巖石樣品不能粉碎時，

應用于所有在烤爐烘干時不顯著收縮的完全巖樣。運用玻
義耳定律能確定出樣品的孔隙率和干密度。

將測定含水量用過的兩塊試片，懸掛在直徑足夠大的燒
杯里，以保證試片的底邊置于水平面上5厘米的位置上。燒
杯應當用帶有橡皮管的密封蓋蓋緊。將裝有試片的燒杯放在
恒溫箱里保溫6小時。接著，迅速地將試片轉移至U一個具塞
的容器里稱重。計算重量的增量占膜重的百分數。
表面粗糙度(均勻性)的測定

    通過光學的或其他適當的方法，測定出磷酸鹽膜的表面
粗糙度，來表示膜的均勻性。光滑、結晶細致的磷酸鹽膜粗
糙度低于1微米，而在租糙膜層的情況里，粗糙度可能會超
過10微米。

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