巖樣及孔隙鑄體砂巖次生孔隙計量巖石顯微鏡的應用
分析方法
為了詳細分析砂巖次生孔隙，應該采取下述步驟：1、辨認存在
的次生孔隙；2、鑒別存在的次生孔隙的結構類型；3、確定次生孔
隙結構產生的原因，和以后在結構上的所有變化；4、查明次生孔
隙的豐度，以及共存的原生孔隙的豐度和結構；5、確定隨后對砂
巖產生影響的成巖變化次序，標距包括對原生孔隙的變化以及次生
孔隙生成和變化的影響。
有時，孔隙隨地層的分布可以表明其次生性，例如，一個孔隙深
度圖可能在經過大段孔隙逐漸下降之后，于深處又出現突然增加的
現象。
偶爾用肉眼，或借助放大鏡。立體顯微鏡可看到次生孔隙的直接
證據，不過，在大多數情況下，直接證據只能通過更先進的觀察方
法來獲得，通常在好的巖石顯微鏡下，運用前面提到的標示，檢查
幾十個薄片，即可發現存在的次生孔隙，因為地一個薄片上可以包
括的巖屑數目，較多可達50個，這樣就可表示一個砂巖層段的整個
巖性系列。
常規巖石顯微鏡有時不能確切確定某些砂巖的次生孔隙，在這種
情況下，可用陰極發光顯微鏡、x-光照相、掃描電子顯微鏡和顯微
探針來檢驗次生孔隙。
如果大量孔隙和其它結構的大小不到10微米，那么，就需要用掃
描電子顯微鏡對巖樣及孔隙鑄體進行研究。
為了確定次生孔隙結構產生的原因，需要將次生孔隙已得到充分
發育的樣品，與次生孔隙剛剛發育的樣品，以及沒有任何次生孔隙
的樣品，在巖石學方面進行比較，除去巖石顯微鏡和掃描電子顯微
鏡外，還常常用陰極發光顯微鏡和顯微探針分析研究巖樣和孔隙鑄
體，在研究溶解孔隙時，人工孔隙鑄體與天然孔隙鑄體比較將是很
有用處的，人工孔隙鑄體靠用酸處理含有可溶組分，但缺乏次生孔
隙的樣品而獲得。
在沒有大量原生孔隙的砂巖是，通常次生孔隙是可以識別的，
但是對既有相當數量原生孔隙，又有相當數量次生孔隙的砂巖，則
常常很難估計每類孔隙的相對豐度，特別是當原生和次生孔隙都占
很大比例時，更是如此，在這種情況下，較好研究相同原生巖性砂
巖中的原生孔隙結構，以及相同壓實程度但沒有次生孔隙砂巖中的
原生孔隙結構，以作為比較，有時，只能確切鑒別一部分孔隙是原
生的還是次生的，其余一部分孔隙的成因則無法確定。
