在10-25μm范圍內的孔隙度測量多功能顯微鏡

  在10-25μm范圍內的孔隙，應通過放大100倍觀察試塊的表面來
確定，要檢驗能充分代表試塊的部位，并與顯微照片進行對比。

  試塊
  應地粗糙度Ra<0.2μm的表面進行測試。
  由試塊表面去除層的厚度應不小于0.2mm。
  表面有備制應這樣進行，使因冷熱加工面引起表面的任何變化減
到較少。

  當測定帶彎曲表面試塊的硬度時，彎曲表面的曲率半徑不就好小
于15mm。

  為了測定曲率半徑小于15mm試塊的硬度，在進行測試處應制備至
少1mm，但較好是3mm寬的平坦表面。
  制備的試塊應至少1.6mm厚。
  壓頭作用的試塊表面應平行于支撐面，其平行度為每10mm
長不大于0.1mm.

   操作程序
  處置的順序應按ISO/R80，并作如下修改。
  新壓頭裝上后，前兩次的讀數不取。
  在指針動作已停止后，加主載荷的時間應不超過2秒，在2秒內逐
漸地卸下主載荷，但保持預載。

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