顯微鏡測量表面粗糙度的高度范圍為1~0.03微米
測微目鏡讀數法
首先使測微目鏡中十字刻線的水平線平行于干涉圖樣的方向線,以此方向線為基準線。然后移動水平線使與取樣長度范圍內的五個較高點及五個較低點相切,得到相應的10個讀數。
采用干涉顯微鏡測量時,不與被測表面接觸,故對被測表面不會破壞。同時這類儀器具有高放大倍率(放大500倍)和高鑒別率,可以測量表面不平度高度范圍為1~0.03微米i)光切法和干涉法在測量時都不使用測頭,因此不會劃傷零件表面;
ii)可以測出被測表面實際輪廓的谷底,測量精度較高(因不受測頭大小的影響);
iii)由于測量儀器(即光切顯微鏡和干涉顯微鏡)比輪廓儀價格便宜,使用較廣泛。
缺點。
i)在光學儀器上不能一次測出許多評定參數的參數值I
ii)輪廓儀一次可以測出27種參數及其數值,而光學儀器則要測量幾次才能得出一個參數值,測量效率低 iii)有許多復雜表面無法測量.
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