光鏡及電子顯微鏡相比有哪些特點-礦相樣品超微粒礦物
用透射式電子顯微鏡研究顯微礦相關系時，被研究的樣品必需
是很薄的一片，能為電子束所透過，而礦石薄片一般都嫌過厚，
當然無法為電子束所透射，因此礦相的磨光面必須由一極薄的復
型來代替，復型必需能真正反映礦物相的組構，并具有一定的強
度，不致因高壓或高速電子束的打擊下而破碎，也需要有很好的
明暗襯度，使礦相組構清晰在顯示出來。
在電子顯微鏡下觀察礦相樣品的復型是為了研究礦石的超顯微
結構和考查超微粒礦物的存在狀態和分布規律，這些研究工作將
對礦石工藝性的分析提供有重要意義的依據。
掃描電子顯微鏡研究
縶熱電子顯微鏡研究則用一個精密的電子束和一陰極射線管的
電子束，進行同步掃描顯微標本獲得三維立體圖象，掃描電鏡與
光學顯微鏡及透射電子顯微鏡相比具有如下顯著特點：
1、獲得三維的圖象，具有立體的真實感，掃描電子顯微鏡是
由電子束沖擊樣品后釋放出來的次級電子，再經過收集后放大成
象，故獲得很大的景深，而不受樣品大小與厚度的影響。
2、掃描電子顯微鏡放大的有效范圍可從10倍直到三十萬倍，
分辨率為150A，有的可達到100A左右，增加放大倍數時焦距不用
改變，景深相對地也產遞減。
3、供掃描電鏡觀察研究用的導電性樣品不必經過研磨或復制
，只要適合儀器抽真空的樣品室大小均可。
掃描電子顯微鏡是由顯微鏡圓筒、電源線路、視頻控制裝置和
真空系統組成。
