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全能顯微鏡中具有雙光學系統,用來觀察不同的樣品




來源:yiyi
時間:2015-7-24 14:32:00

全能顯微鏡中具有雙光學系統,用來觀察不同的樣品

檢定分劃尺的補充設備由左、右兩個支架組成,在兩支架上各
固定一個檢定儀類型的顯微鏡,支架則固定在機器的測量基座上。
支架都裝有改正螺旋,改正螺旋可于不大的范圍內在相互垂直的兩
個方向上改變顯微鏡的傾斜度。左支架除有改正螺旋外,還有在水
平方向內移動顯微鏡的滑架。全套設備中還包括四個能上、下移動
的側臺,而這些側臺的頂面均可在垂直于機床導軌的方向上移動。

    為了測定顯微鏡零分劃間的距離,在設備的整機內安置有因瓦
桿尺。
 
     當米或百毫米的分劃的零分劃和微口徑測量器的鏡筒分
劃尺重合時,借助于位在側臺上的因瓦桿尺測定左、右顯微鏡零分
劃間的距離(值得注意的是,要使顯微鏡垂直豎立且物鏡都位在同
測定安在側臺上的被測量構件分劃線間的距離。

    當取得整米分劃、整百毫米分劃和兩個顯微鏡的諸讀數之后
在全能顯微鏡上進行下列工作是方便的。校準測量長度用的插
軸和測量角度用的照準目標,檢定時針式指示器,測定短水準尺分
劃改正數與因瓦線尺分劃改正數,檢驗測量的平面平行板,以及各
種分劃尺的端點、螺旋線。在全能顯微鏡中。依被鑒定過的帶有
0.001毫米級誤差的玻璃分則尺來測定被測構件的變化。

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