顆粒狀物質的粒度范圍-篩分析和顆粒分級圖像顯微鏡
粒度分布的圖示方法是比較麻煩的。同時，顆粒度數據處理
也要求找到表示粒度分布的函數式。因此，研究分布函數是十分
必要的。
對分布函數曾引入過許多經驗式，但研究較多的是對
數正態分布。對數正態分布應用較廣，也有一定的理論根據。一
般認為，它對于用結晶或粉碎方法得到的顆粒系統是適用的，并且
經過適當的變換，也可以解釋一些偏離對數正態分布的粒度分布。
顆粒度數據的重要性
顆粒狀物質的粒度范圍
這些顆粒度數據的獲得是前人大量工作的結果。粒度測量工
作，追究其歷史是一件很有意義的工作，因為它與人類對大自然
的認識、生產活動息息相關。但可惜，對這個問題沒有人進行過
系統研究。如果大概的說一下，那么較早使用的方法應是篩分析
和某些顆粒分級方法，像米和面的篩分、食物加工中風選、選礦
中的水力分級等在古代就有了，一直延用到現在。顯微鏡是18世
紀出現的，它的出現擴大了人們的視野，一些本來肉眼看不見的
顆粒狀物質，這時被發現了，像細胞、細菌的發現都是有劃時代
的意義的。
應用某些沉降分析技術，
這是和工業的發展分不開的，像地質上泥沙、陶瓷和化工原料、
金屬粉末和廢氣中塵埃等的粒度測量，基本上是這個時候開始
的。至于電子顯微鏡和一些顆粒自動計數方法的出現則是近期的
事，它是近代大工業生產和科學研究所需要的。
