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測長儀分為立式的和臥式的兩種-光學測量儀廠商




來源:yiyi
時間:2015-7-10 19:16:14

測長儀分為立式的和臥式的兩種-光學測量儀器廠商


測長儀是在測量線上裝有活動刻度尺的光學一機械接觸式量儀。
    這類量儀的特點是完全遵守阿貝原理)。第一種型
號的立式測長儀是阿貝設計的。因此這種立式測長儀。常常叫做
阿貝測長儀
    測長儀分為立式的和臥式的兩種。
臥式測長儀在原理上是和帶床身的臥式光學計具有同樣測
量系統的量儀,但是安裝了測長裝置代替光學計的光管。儀器的所
有主要結構元件和帶床身的臥式光學計的都是相同
的,有時甚至是統一化的。
測長儀的檢定

    應用四等量塊檢定檢定的特點是,必須平衡量塊和被檢儀
器的溫度,采用大尺寸量塊組檢定儀器時尤應注意。
    平衡溫度就是將量塊放置在金屬平板上等一段時間:對于
100mm以下的量塊,等待不少于l h,對手150和250mm的量
塊,不少于2 h。
干涉儀
    干涉儀是光學一機械線值測量儀器,它利用光干涉現象進行
光一機轉換。  
    干涉儀的主要用途用測量和檢定量塊,測量檢驗量規,檢定
標準零件等。 
測量直角三角形的邊長,三角形的
一個角是被測角,用三角函數確定這個角度的值。因此,這種測
量方法常稱為三角測量法,還可稱為坐標法,因為測量過程可歸
結為測量三角形各點的坐標位置。
    這種凋量方法較常用于測量顯微鏡和坐標測量機。

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