光學顯微鏡在測量中的應用-多功能光學元件廠商
研究顯微變形的光干涉測量法
光干涉測量法通常分為點的和立體的(全息照相)兩種。
用第一種方法可以進行一個點上的探測；而用第二種方法，
則無論被研究物體有多么復雜，都可以同時觀察物體整個被研究
的表面或整個物體。
在點干涉測量法中，利用兩來精確疊加的光路，
因為這里的
干涉圖象出現，只是在對同時存在的兩條光程圖象進行比較而來
的。各種點干涉測量法實際上都是利用邁克爾遜干涉儀或其變形
產品的原理力基礎，其結果是兩束相干的平面光波的疊加而產生
干涉，所以各種光學元件都應當是高質量的。
被研究的物體表面的本身在某種程度上也是干涉儀系統中的光學
元件，所以這個表面應當是光學平面，而且要拋光成鏡面。
這里，探討一下全息照像的物理頃理和它與普通照像的區別。普
通照像一般在白色光(非單色光和非相干光)下，光學(透鏡)系統
將三維物體拍攝在照像底版平面上。這樣，物體的像就失去了立
體性質，不能從像片各個方向觀察物體，所以在像片上沒有位移
視差效應。
只能拍攝物體一定部位的像。所以，在一張底片上無法拍攝幾個
物體的像，因為一個像要干擾另一個像。像的照度決定于在單位
時間內照射在底版每個部位單位面積上光的能量。此時不考慮物
體反射的光波相位，因為它們是分布在像的平面上的。
近來，
所謂全息照像的方法得到了成功地發展。這種方法所
得到的光學圖象與普通照像有原則亡的區別。全息照像法是一種
原理上全新的方法，可獲得物體的立體成像。這種方法的基礎是
：空間相干的單色光波， 當相交時，在相互平行的方向上偏振
而產生干涉。
全息照像的過程，總的說來，就是把照射在物體所有點上的散射
出來的光波和參考(直射)光波疊加在一起。
由于相干光波疊
加的結果形成了干涉圖象，這種圖象一般記
錄在照像底版或感光軟片上，假如照射在底板上只有三維物體所
散射的光，那么，這種光對底板的照射是均勻的。
我們得不到由物體各點散射的光程差所決定的對照度的信息。如
果帶給物體的另一種信息模擬為參考光波，它起著直射頻率的作
用，則這種模擬所反映的不僅是振幅的變化，而且還反映相位的
移動
