涂層厚度測量-金相顯微鏡在涂層厚度的應用

  涂層厚度

  已經開發出許多破壞和非破壞方法測量表面涂層的厚度
，金相法中包括非破壞的干涉測量法，或在橫截面上的測
量標準提供了廣泛的涂層厚度的顯微鏡測量標準，這些方
法適用于厚度大于8μm的涂層的測量，除氧化物涂層外，
涂層應覆一喜憂參半厚度10μm以上鍍層保護，鍍層必須與
涂層相容，并能顯示顏色反差，鋅與鎘鍍層不能用銅鍍層覆，
這是因為浸蝕將在涂層上產生銅的沉積而造成測量的
困難。

  涂層試樣應當鑲嵌以便制出一個垂直于涂層平面，如果
用傾斜的截面同，其傾斜角必須精確測量，只要可能，試
樣長度應小于20mm.

  涂層試樣的磨光要取一定方向使研磨時硬區領先于軟區
，研磨方向應與涂層表面成45度角，每一個研磨步驟應當
與前一步成90度角，建議進行浸蝕以便使分界面鮮明并避
免軟金屬的污染。

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