金相表面特征檢測光學顯微鏡和電鏡兩種技術互補

表面檢查

  因為電子被致密材料吸收，對金屬的早期研究就限于復
型技術研究金屬表面，這些工作涉及用適當的代密度材料
制作一個表面的復型，因此這種復型方法的使用受到限制
，不過復型技術仍廣泛地用于定性和定量地評估許多表面
特征。

 在實際場合下，選用電子顯微鏡并不總比選用光學顯微鏡
有益，所以，重要的是要選擇適于一種具體目的的較好技
術，兩種技術互為補充，每種方法都能獲得有用的數據。

  結構的檢查

  用透射電子顯微鏡檢查金屬結構，重要的是要制備能透
過電子事泊金屬薄片，對于鎳來說，就必須要制備1000-
2000A厚的薄片。

  已進行的實驗工作表明，假定在制備薄片時，鍍層的開
始層溶解掉，那么一個特定的鍍層的結構與基底的性質無
關，這就消除了檢查一種結構可能受基底影響的非代表試
樣的可能性，因為高倍放大是可能的。

  但是即使在較高放大倍數下，光亮鎳的結構也不能分辨
，但在顯微鏡內也能進行電子衍射，以致在亮鎳的情況下
，也能獲得某些數據。

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