晶粒大小的測量就是要測出兩種晶粒的晶粒度級別

  雙重晶粒組織

  金屬中具有雙重晶粒組織（混晶組織）的情況也不少，雙重
晶粒組織具有晶粒面積、直徑及線截距的雙峰頻率分布，雙重
晶粒組織有兩種情況，一種表現為界線分明的細晶區團和粗晶
區團，即在大晶粒基體中包含小晶�；蚺c之相反，另一種則表
現為少量超出正常晶粒大小分布范圍的晶粒散布于正常晶�；�
體上。

  雙重晶粒組織的晶粒大小的測量就是要測出兩種晶粒的晶粒
度級別，并確定它們的比率，前一種情況比較簡單，只要用較
低的倍率在隨機選擇的若干視場中對細晶區和粗晶區進行點計
數來確定其體積積分率，然后再在適當的較高倍率下分別測量
其晶粒度級別，而后一種情況就比較困難，較好的辦法就是測
出整個晶粒線截距的頻率分布，然后再把數據分成兩個組來分
別計算，提出用幾組間隔為5mm的平行線柵格在0°、45°、90
°、135°4個方向上測量線截距，然后按線截距大小以每1mm
間隔（在測量放大倍數下）把數據分組，畫出頻數分布圖后就
可以劃分出細晶區和粗晶區，并分別進行計算。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)