偏光顯微鏡用途較大,特別適于測微小透明礦物折射率
包體研究中的顯微鏡
偏光顯微鏡
這是包體研究中必不可少的基本設備之一。在研究包體形
成機理時和利用包體進行測溫、測壓、測成分時，以及利用
包體普查勘探礦床和盲礦體時均需用它，一般可用地質人員
常用的透射偏光顯微鏡，但較好使用既適于透射光又適于反
射光的兩用偏光顯微鏡。我國光學工業正生產各種不同精密
光學儀器，透射反射兩用偏光顯微鏡也已正式生產，為我們
的研究工作提供了較良好條件。下面介紹幾種國內外常用透
射反射兩用偏光顯微鏡用某些其它顯微鏡。
干涉顯微鏡和相差顯微鏡
近年相差和干涉顯微術有進展，尤其干涉顯微鏡很發達。
這兩類顯微鏡原理不同，但用于同樣目的。兩者均能提高
研究物體與其背景之間的襯度，且設備不復雜，操作簡便。
已廣泛應用各科研究領域。地質上便于研究細小透明無色或
淺色礦物，尤其適于測細小透明礦物折射率，也便于研究包
體、晶體缺陷及固溶體分離。雖有專門成套產品，但一般偏
光顯微鏡只要增加相應特制物鏡和聚光鏡等少許專用附件，
即可變為相應的相差顯微鏡和干涉顯微鏡。
這些裝置用途較大，但特別適于測微小透明礦物折射率，
在偏光中測程差的精度為0.01，當薄片厚0.01-0.03mm時，
測定折射率和精度可達小數后第4位，且操作較迅速。又如
，地開石細小晶體在香柏木油和丁香混合液中，當明亮域法
時幾乎見不到；但地相差、諾馬斯基微分干涉送菜主賈明一
列別杰夫干涉裝置下則非常清楚，這些特點將有助于包體研
究。
