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光切顯微鏡可以用來測量非常精細表面粗糙度




來源:yiyi
時間:2015-4-1 17:17:20

光切顯微鏡可以用來測量非常精細表面粗糙度
              
              
    許多不同的技術是可用來測量表面粗糙度的,能檢查表面橫
截面輪廓的手段有錐形橫截法或光切顯微鏡,錐形橫截法是用很
小的角度來截取試樣;光切顯微鏡是將狹縫的圖象以45度入射角
投射到表面上,用處于45度反射角位置上的顯微鏡的物鏡來觀測
:如果表面是光滑的,則狹縫的圖象是直的,若表面是粗糙的,
則圖象是起伏的。

 光學 數字技術克服了許多與測量非常精細表面(用傳
統和非傳統的方法)粗糙度有關的困難問題,所得到的結果不僅
精確,便于比較,而且預示出較好的表面功能特性。因此,該粗
糙度的評定與由工廠的儀器可能得到的局限的結果相對比是可用
的、實際的、詳盡的和全面的,而且還是一個非接觸方法,不存
在劃傷表面的危險。

    零件的表面粗糙度影響諸如摩擦、磨損和潤滑等方面的功能
特性,因此為了得到較佳的性能,必須控制由不同加工方法獲得
的表面粗糙度。要求有一種快速和有效的測量表面粗糙度的方法。
              

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