高精拋光或鏡面精加工樣品工業用表面粗糙度儀
高精拋光或鏡面精加工表面,在用觸針式(接觸式)測量儀器測量其粗糙度時,所遇到的問題恰恰是在高的靈敏度方面。表面的輪廓圖形被觸針的抖動、振動以及外界的影響(如儀器的噪聲)所歪曲。儀器的較小讀數也是一個對測量的限制因素,當所測表面的粗糙度值接近儀器較小數值時,基準表面特性的影響變成主要因素,工業用儀器所提供的信息大多數是測量表面微不平度的高度,對于鏡面精加工表面,這種測量不能充分實現對其粗糙度進行實現的和恰如其分的評定。 然而,當測量很精細表面時,用一個精細的觸針和較高的數據采樣率,觸針式儀器的限制可能減到較小,并可能獲得較好的結果。但是,觸針尖端接觸壓力強度的提高會導致表面的損傷,采樣點的過密會造成數據的相關聯的過,光學方法(非接觸型) 不能單獨的給出這種表面完整的粗糙度的評定,它們多數是測量表面的反射率、劃痕和溝槽的深度,而并非是表面的紋理結構。
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