電粒度分析與顯微鏡分析磨粉的粒度的特點
　
　
　  光在各種微粒上的漫散射，是產生測量誤差的原因之一
(特別是檢驗輕度色散性磨粉時)。要消除這一缺陷，可在上
述儀器中與光通道平行的平面上加裝一個輔助光電元件，這
個無電元件和儀器的主要光電元件面對面地安裝。因為懸浮
掖中光的漫射是擴散型的，也就是光的漫射強度在任何方向
都是相等的，故接入輔助光電元件就可校準儀器的示值。主
要光電元件和輔助光電元件必須要選擇其特性相一致的。

上述光電粒度分析法具有一系列優點，比較顯微鏡分析法，包
括分析時間大大縮短，能足夠客觀地評定待分析磨粉的粒度
組成，以及令人滿意的測量結果的重合性。但是，這種方法
也有一些缺點，因而目前還在研制新的粒度組成分析法。盡
管這些方法暫時還未在磨料磨異工業中得到廣泛的應用　

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