高分辨率的電子顯微鏡可以觀察更加精細的排列

    可以說電子顯微鏡的發展，給金屬打開了新的視野。目
前高分辨率的電子顯微鏡可以完整地觀察硅的原子排列。
這使直接觀察原子及原子的晶格缺陷成為可能。三百萬和一
百萬電子伏特超高壓電子顯微鏡，用透射法可以觀察很厚的
試樣，已經可以更精確地分辨位錯的排列方式及加工時的位
錯形態。進行電子顯微鏡中的拉伸和加熱等多種在線(in si-
tu)實驗，用磁帶錄象機和電影可以拍下動態行為。用超高
壓電子顯微鏡進行高密度和高能量的電子束照射在線實驗，
得出了新的見解。

    觀察一個個原子的場離子顯微鏡(FIM)取得了發展，可
以直接觀察表而的一個個原子，能看到微觀的點，如果把這
微觀的點看成點缺陷，那么象消耗一百英尺膠卷，只能拍下
幾個雙原子空位那樣，實驗規模太大，原子探頭場離子顯微
鏡是把質譜儀接到FIM上面的一種設備，使表面原子蒸發，
從而可以判斷原子類型。

    有色金屬種類多，用途廣，但一般認為沒有象鋼鐵那
樣，去進行極仔細地合金化和熱處理的研究工作。在價格和
產量方面必須與鋼鐵比個高低。

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