試樣表面檢測金相分析圖像顯微鏡制造廠商

    在試驗過程中，經適當制備的試樣表面可用金相技術進行分
析。這些技術主要包括用冶金方法制備試樣表面，用光學顯微
鏡直接檢驗表面，或用電子顯微鏡檢驗所制備的表面復制品。

    一般在低倍率和中等倍率下可以著出，在靜載荷下形成的滑
移線是鮮明的直線，它們均勻地分布在每個晶粒上。在高倍率下
可以看出，這些獨立的線是具有不同高度的平行線滑移帶。在循
環應力下產生的滑移線形成了滑移帶，它們不一定一直延伸而通
過晶粒，隨著試驗的進行，在老的滑移線旁邊形成了新的滑移
線，各滑移帶之間的中間區顯然沒有滑移。

    發生破壞和開裂與表而晶粒有關，只有當表面晶粒中
形成的裂紋擴展而通過試樣時，試樣體內裂紋通過的那部分晶粒
才發生破壞。這意味著在疲勞試驗中直接觀察裂紋的擴展過程是
比較簡單的。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)