雙折射礦物折射率測量用光學圖像顯微鏡

  在尋找好包裹體時，光源是一個重要因素，如果切
片非常清楚透明，并含有很少小包裹體時，那么較好
是通過縮小顯微鏡臺下的光圈至一個非常小的直徑以
尋找好包裹體，這將在比較深的焦點上顯示小包裹體
。在一些充滿了包裹體、破裂或固態碎屑的樣品中尋
找好包裹體和仔細檢查任何一個定包裹體時，光圈一
般應該大開著，這可消除許多圖像疊加的麻煩。

  雙折射礦物往往應該要樣品的某一偏振方向平行于
偏光鏡的位置進行觀察，這樣就消除了在向一個雙折
射率低的礦物的深處觀察時所見到的（在方解石的幾
乎任何深度都可見到）干擾的雙重圖像。除非是包裹
體很接近表面，否則，偏光鏡都應該與雙折射率高的
一軸晶負礦物（例如蓌面體的碳酸鹽類）的常光平行
，這是因為非常光的圖像嚴重地被歪曲而模糊不清。

（因為這些礦物中常光具有高得多有折射率，所以這
種情況也允許我們聚焦在切面較深處，因而在油浸物
鏡范圍內能看到更多的樣品部分）。如果必須用玻璃
蓋片的話，那么較好是用較薄的“00”級蓋玻片以得
到聚焦樣品的較大深度。

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