鑒別礦物植物包裹體形狀與大小計量圖像顯微鏡
切面和拋光
適合作顯微鏡研究的兩面拋光薄片的切制和拋光比制做
一般的切片和光片更要細心。要從拋光不好的樣品（拋光差
的樣品造成嚴重的圖像衰退），去對包裹體作光學研究（特
別是在不利于光性研究的熱臺和冷臺的情況下），如不遇到
額外的麻煩那是很困難的。如果是用普通的顯微鏡進行研究
（而不是有熱臺和冷臺的），則用蓋片加上極相近的浸油即
可以代替一片良好的拋光片。
拋光片通常是在專門樣品的較佳方向切一薄片制備的，
這應該用一個很薄的邊緣上連續鑲嵌金剛石的切輪和水冷卻
劑來完成，這些切輪用不同粗細的砂做成，用來切割各種物
質，這種類型的切輪在鄰接踞盤的樣品鋸切面上所造成的破
裂比用標準凹邊金剛石刀盤切割薄片時所產生的破裂要少得
多。刀盤越薄，在切割中所需要壓力越小，損失的樣品也越
少，但刀盤斷壞的機會也越大。作者用厚0.015 英寸的刀盤
來切割小晶體，并且切割制備用的玻璃載玻片上許多形體。
拋光的質量（尤其是頂面）要求特別嚴格。
晶族的薄殼和易碎或疏松多孔樣品的薄片較好用環氧樹
脂作包殼或注入（必要時要在真空條件下進行操作）、并固
結、研磨至橫切面上所需的晶體達到較大數量為止，然后進
行拋光。用一種可溶膠合劑把這種拋光面粘地一塊載玻片上，
并鋸出第二個平行面。研磨和拋光后，溶掉膠合劑，就制成
了適合熱臺和冷臺的兩面磨光片，用研磨的方法以減小任何
薄片厚度之前，較好用一蓋片及合適的浸油的方式非進行
“臨時拋光”法檢查。采用此法，我們就常可以認出一個接
近表面的大包裹體，這種包裹體只有從其反面研磨和拋光才
能保存下來。
