幾何形狀的試樣顆粒輪廓測量多功能分析圖像顯微鏡
顯微鏡的測量
如果試樣中所有有顆粒是相同有簡單幾何形狀的物體，如球體、圓
柱體或立方體，則問題就相當直截了當，粒度可以顆粒的直徑，直徑高
度或邊長以及類似的量表示，可惜，實際上顆粒幾乎總具有高度不規則
的形狀，還沒有已知的方法能夠以簡單合理的數學方法準確地表示它們
的粒度，而不得不采取各種權的措施，常用的方法是等當球體，這是指
一個具有與該顆粒相同的體積，對于表面問題，時常便利地把球體想象
為具有與顆粒相同的面積。
在顯微鏡的測量中，用平均投影直徑，即具有與顆粒的投影相同面
積的圓的直徑，這是從與較稱平面垂直方向觀察的，沒有考慮顆粒厚度，
即與較穩定平面垂直的度量。
粒度分布現在假定，已用某些方式測定了粉體試樣中所有的顆粒的
直徑，一般地將發現，它們不都相等，但是有一個粒度分布，有些顆粒
是細的，也有些是粗的，而大量的是中等直徑的，就是在細心分級的試
樣中。幾乎肯定還有直徑的變化，這種分布較好用“頻率圖”表示，典
型的點表示有16% 的顆粒的直徑介于20和25，檢查的顆粒數愈多，實驗
曲線變得愈平滑，愈加密切接近概率曲線些，粉末的均勻度是以曲線頂
峰的陡工表示，所以虛線比實線代表一種更均勻的粉體。
為了充分地引用某給定試樣的顆粒直徑，需要給出對應的分布曲線，
但是這相當麻煩，并且對于許多目的，要求能夠把直徑用一個單一數值
表示，這就要用一些合適的統計方法，將實際數值進行平均，從而得到
統計直徑。
