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鍍層工藝樣品顯微結構的計量分析圖像顯微鏡




來源:yiyi
時間:2015-1-2 0:09:18

鍍層工藝樣品顯微結構的計量分析圖像顯微鏡

  鍍層顯微結構的分析

  鍍層的性能是由其顯微結構決定的,研究鍍層
的顯微結構,了解其工藝——結構——性能的關
系,是提高工藝水平,保證鍍層的關鍵所在,隨
著鍍層的應用的日益增多,這個問題的重要性也
越來越突出。成為鍍層質量檢驗的必不可少的內
容。


  電圖象法能否用于檢查氰化鈦鍍層的孔隙率,
關鍵取決于要選用合適的試劑和電解質,鐵氰化
鉀是一種成功的顯色劑。
  1)用末涂感光材料的鋇紙為試紙,尺寸比待測
表面稍大即可。
  2)將試紙浸入鐵氰化鉀和氯化鈉的混合液中10
分鐘左右,取出試紙后用濾紙吸去表面的檢查液
。
  3)將試紙覆蓋在經過清洗的待測表面上,壓上
壓頭,放到測試儀器上。
  4)試樣接到直流電源的正極上,壓頭接到電源
的負極上,電流密度2mA/cm2,時間約5s。

  5)卸去壓力,取下樣品,小心地從樣品上揭下
試紙。
  6)在工具顯微鏡下或10倍放大鏡下數出試紙上
的蘭色斑點,計算出鍍層的孔隙率。

  用上述試驗條件測量了12個樣品。
  除個別樣品外,平均誤差在5%以下,能檢查出
自微米量級的孔,更小的孔可能測不出來。

  用X射線衍射法在裝置上獲得的表面晶體點陣微觀畸變的X射
線結構分析數據,證明了上述顯微硬度降低的本質,原來狀態
點陣的相對微觀變形用金屬絲以切削方式在沒有化學活性介質
的情況下加工在力學化學加工后為即由于化學力學效應引起的
表面薄層中的應力松弛導致幾乎全部物理——力學性能的提高

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