應用電子顯微鏡技術研究砂巖地層滲透率孔隙度
絕對滲透率的降低
次生或固有的顆粒使孔隙通道堵塞，因而造成了絕對滲透率
的降低。
地層內部的顆粒堵塞
地層的孔隙系統使得流體沿著彎曲的路徑流向井筒�，F代的
實驗室方法，包括掃描電子顯微鏡，已提供了在地層孔隙系統內
部顆粒堵塞的較清晰的圖象，不論這種顆粒是地層固有的，或是
由各種濾液所攜入的。
掃描電子顯微鏡在檢測貝利亞組砂巖的產層傷害中的應用。
在注入4倍孔隙體積的粘土基稀泥漿后，產生了產層的傷害。
注入前滲透率為562毫達西，注入后為3．2毫達西。
砂巖地層包含有許多互相連通的孔隙。具有代表性的孔隙直
徑在10--100微米的范圍內。每平方英寸的貝利亞組砂巖包含有
3000多個孔隙。
流經這些孔隙洞穴的流體，其方向和速度都在不斷改變。在
徑向流動系統中，當流體接近井筒時，流速增加，在較小孔隙中
可能達到紊流的范圍。
事實上，砂巖地層是一種極好的過濾器，它利用了三種過濾
機理篩選(孔隙孔洞)，吸附(大的表面積)，以及沉積(孔隙
深度)。它可被視作一種深度濾器，它對流速和壓差十分敏感。
當超過設計的流速時，深度濾器就迅速地被堵塞。
顆粒能夠從孔隙系統中通過。砂巖的電子顯微鏡照片。
