檢測、計數和研究懸浮質點暗視野顯微鏡附件制造
暗場顯微技術超顯微鏡
暗場照明對檢測、計數和研究懸浮質點的運動是一項特別
有用的技術．在一個普通顯微鏡的側面裝有一個照明系統，光
線不能直接進入物鏡，只有被研究樣品散射的光才能進入．
若膠體分散體系中，質點與其懸浮介質間的折射率有較大
差別，當用一束強光照明時，則有足夠的光被偏轉到物鏡中
去，因而質點看起來成為暗背景上的亮點．用此法可看見小到
5～lOnm的憎液性質點．由于溶劑化作用，親液性質點的折
射率，如被溶解的高分子，與懸浮介質的折射率差別較小，因
此它們散射的光很弱，不足以為暗場法檢測到．
暗場法主要有光柵法和心形聚光法兩種：心形聚光器
(為標準顯微鏡的附件)是一種可產生空心錐形照明光源的光學裝置，
樣品放在光錐頂端，其亮度甚強
掃描電子顯微鏡
、掃描電子顯微鏡是使用一中等能量的微電子束，以一連串
平行的軌跡對樣品進行掃描，與樣品相互作用，從而產生各種
不同的信號．包括二次電子發射(SEE)，背散射電子(BSE)，
陰極發光和x一射線，都可(根據它們各自的特性)檢測出來，顯
示在熒光屏上和照相底板上．在SEE象中，質點有如被散光
照明，我們可以測量其大小和研究其聚集情況，但不能覺察其
高度．在BSE象中，質點有如被點光源照明，所形成的陰影可
很好地顯示出高度的差別．
掃描電子顯微鏡(分辨極限約5nm)所能達到的放大率一般
雖小于透射電子顯微鏡，但它具有景深較大(由于數值孔徑小)
這一主要優點．在光學顯微鏡的放大范圍內，掃描電子顯微鏡
’所能形成的景深可超過光學顯微鏡幾百倍．如在研究固體表面
輪廓和質點形狀與位向時，這樣大的景深在膠體與表面化學中
是極端有用的．
