偏光顯微鏡樹膠與礦物折光率差值大則解理紋越清晰
單偏光下觀察只用一個下偏光鏡而不用上偏光鏡的觀
察，稱單偏光下的觀察，礦物晶體的許多重要光學性質，
只需要一個下偏光鏡就可以觀察，如顏色、多色性等，某
些外表特征，則不需要下偏光，只要放大就能觀察，如形
狀、解理等，不過對這些特征的觀察，有下偏光鏡也沒有
影響，所以通常都是在單偏光下觀察。
許多礦物都具有解理，但是解理的方向，組數及完善
程度各不相同，所以解理也是鑒定礦物的一個重要依據，
解理即有一定方向性，因而它與某個晶軸常有一定關系，
所以在薄片鑒定中，解理還可以作為測定其他光學常數的
輔助條件。
根據解理的完善程度，一般可分為三級：1 、極完善
解理，解理紋細密而直長，如云母
2 、完善解理，解理紋雖清楚，但末完全聯貫
3 、不完善解理，解理紋繼續，有量只見痕跡礦物解
理的清楚程度，除與解理完善程度有關外，還受礦物與加
拿大樹膠折光率差值的影響，樹膠與礦物折光率差值愈大，
則解理紋愈清楚，解理紋的寬度，除與解理性質有關外，
還與解理性質有關外，還與切面方向有密切關系，當切片
平面與解理面垂直時，解理紋較窄，代表實際寬度，解理
面與切面是否垂直，可借升降顯微鏡筒時解理紋是否向兩
邊移動來鑒別。
