金相顯微鏡一般放大晶體精細結構100-500倍進行鑒定
透射式電子顯微鏡以具有波動性在高速電子束為光源，電子束
的波長隨加速電壓增高而縮短，現在常用 者為0.05埃左右，分
辨率可達4-8埃，放大倍率可達幾十萬倍，這不僅有利于觀察顯
微組織的精細結構，而且還能通過電子衍射把結構分析與形態觀
察結合起來。因而是一種極為主要的檢驗身為，但由于電子束不
能穿透大塊金屬，而需要在試樣表面復制出透明薄膜，或將試樣
制備成極薄的試片，才能觀察，故制備試樣很麻煩，設備費用也
較大，這就限制了更普遍的應用。
掃描電子顯微鏡，是用聚得非常細的電子探針事不，在試樣表
面上逐點掃描，并把照射位置上發射出來的二次電子、反射電子
、吸收電子、透射電子、光子及x射線等信號檢測出來加以放大
，以此信號調節與電子探針事沒步掃描的陰極射線管上的亮度，
從而在陰極射線管的熒光屏上得到試樣的放大象。這樣可不必制
備復型，而直接觀察試樣表面，其景深很大，放大倍數可以從低
倍到高倍連續變化，利用其x射線分析裝置可進行電子探針微區
成分分析，現有掃描電鏡的分辨紡低于透射式電鏡，一般約為20
0埃，好一些的可達100埃。
按標準規定，一般檢驗項目都在普通金相顯微鏡下放大100-50
0倍進行評定，在一般情況下都采用明場照明，即來自光源的光
線，穿過物鏡垂直地照射在試樣表面上，然后反射回物鏡放大成
象，顯微組織中和平坦部分呈明亮區域，而凹凸不平的部分分別
因散射而成黑暗區域，暗場照明與此相反，入射光線不穿過物鏡
，而是以很大的角度斜射至試樣表面，使平坦部分呈一片黑暗，
而凹陷部分卻能將光線反射回物鏡呈明亮區域，借以觀察一些非
金屬夾雜物的透明度和顏色，有時也用偏振光來辨別晶體的各向
異性以及注銷和透明度，通過特殊轉動載物臺觀察夾雜物時，若
無明亮變化即為各向同性，若有明亮和消光的變化，則為各向異
性。
高倍檢驗主要應用于檢查結構鋼的晶粒度、夾雜物、膠碳和
工具鋼的碳化物分布狀況。
保持澆注系統的清潔干燥和注意各項澆注工藝操作等，固然對
鋼是氣體夾雜含量有重要影響，而整個澆注過程更是與鋼的凝固
過程和結晶組織緊密相關。
