粗晶粒材料金相顯微分析儀器-光學測量顯微鏡

    僅根據宏觀形貌來給斷口分類固然可找到斷口形貌較主要的特征和
加載方式之間的關系，但卻很難體現材料成分和環境介質等對斷門形貌
的影響。

    例如在粗晶粒材料的脆性斷口上，可以清楚地看到發亮的解理小平
面，但對于經淬火、回火的細晶粒材料，同樣是脆性斷口，卻看不到這
種光亮的小平面，

    此時得到的是無光譯、且無明顯特色的斷口。此外、滑移造成的宏
觀斷口也會像另一種材料的脆性斷口那樣閃閃發交。

    另外一些斷口的宏觀特征形貌如體止線等也不一定就是裂紋饅速擴
展造成的，它們可能在一般斷口上出現，而在疲勞斷口上有時反而看不
到。

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