測量顯微鏡的的光學設計常識和原理-光學儀器

干涉顯微鏡，它利用剪切法不但能作一般干涉測量和微分干涉觀察，
而且還能對微小樣品作干涉相位差測量，是一種應用范圍很廣的儀器。

    這里所說的利用剪切法作一般干涉測量是把兩支光路過來的象，
完全分離并使它們產生干涉的方法測量微分干涉是利用分辯率以下的
剪切重疊干涉的方法.

    但是，在用剪切法進行各種干涉測量中，還有一種比完全分離的
剪切要小，而分辨率要大的中間狀態下進行干涉的方法，稱為差分干涉。
我們認為這種方法是非常有用的.

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